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武汉新芯集成电路股份有限公司申请校验码产生方法及存储器专利提高校验码的处理效率
类别：公司新闻 发布时间：2025-01-03 16:34:05 浏览： 次
金融界2024年10月24日消息，国家知识产权局信息显示，武汉新芯集成电路股份有限公司申请一项名为“校验码产生方法及存储器”的专利，公开号CN 118796540 A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本申请公开了一种校验码产生方法及存储器，该校验码产生方法先基于第一地址数据对应的且同步获取到的存储数据、编程数据，生成对应的校验码，再存储校验码至页缓冲器中与第二地址数据对应的存储空间，可以通过基于同步获取到的存储数据、编程数据生成对应的校验码，相较于基于异步获取到的存储数据、编程数据生成对应的校验码，减少了校验码的处理过程需要花费的时间，从而提高了校验码的处理效率。
